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首页 产品中心 紫外辐射检测系列 GO-SPEX200 紫外空间辐射分布测试系统
GO-SPEX200 紫外空间辐射分布测试系统
集电学、辐射度学、温控装置于一体 紫外封装器件的高精度测试设备
典型应用场景
该系统采用独特的暗箱设计,集电学、辐射度学、温控装置于一体,专门用于紫外封装LED(包括集成封装)的总辐射通量、空间辐射强度分布(配光性能)、辐射强度数据、角度的准确测试,符合相关标准要求。
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主要特点
1、高精度二维转台:角度精度0.2°,可实现LED的精确定位以及其空间角度特性的准确测量。
2、内置温控平台:精确控温,为LED设计应用提供指导性数据。
3、内置空间辐射度分布测量系统,可实现不同波长紫外LED光源的相对光谱功率分布、峰值波长、辐射强度分布、总辐射通量的高精度测量。
4、内置高稳定度的恒流供电单元:确保LED稳定供电,提高测量精度。
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主要技术指标
型  号GO-SPEX200
转台机械部分指标
测量距离100mm,316mm,1000mm
被测LED自动旋转范围±90°(γ轴),±180°(C轴)
测量数据可以以IES等国际标准文件导出,可用于二次光学设计
温控参数
温度控制范围5℃~120℃
温度显示分辨率0.01℃
温控夹具控温方式TEC自动控温,精度±0.5℃
控温方式

LED功率≤3W,温度控制范围为5℃~120℃;

 3W<LED功率≤10W,温度控制范围为20℃~120℃ 。

   注:控制温度不能低于环境温度15℃,推荐设定温度不低于环境温度5℃,以防止产生凝露

温控平台尺寸φ50mm
光谱及辐射度参数
波长范围200nm-450nm
波长准确度0.1nm
半峰带宽1nm
光谱辐照度测量范围

光谱辐照度测量范围:0-20000uw/cm?

(不同波段测量范围不同,特殊范围可定制)

辐照度准确度标准级(专用标准灯校准后)
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